Kore SurfaceSeer I是一款高靈敏度 的TOF-SIMS（飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀），具有高通量分析功能，可用于絕緣、導(dǎo)電表面的成像分析與化學(xué)成分分析。SurfaceSeer I 是研究表面化學(xué)的理想選擇，適用于 研發(fā)和工業(yè)質(zhì)量控制應(yīng)用。

飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜（TOF-SIMS）主要通過質(zhì)譜分析、表面成像（二維成像/三維成像）、深度剖析等功能，從而分析樣品表面元素成分和分布。

Kore SurfaceSeer I 是一款高靈敏度 TOF-SIMS，用于絕緣和導(dǎo)電材料表面的成像和化學(xué)測(cè)繪。該儀器是研究表面化學(xué)的理想工具，在研發(fā)或工業(yè)質(zhì)量控制應(yīng)用中同樣適用。 SurfaceSeer I 使用與 SurfaceSeeer S 相同的 TOF-MS 技術(shù)，但配備了高亮度、高空 間分辨率的 25kV 液態(tài)金屬離子槍（LMIG）作為主要離子源。LMIG 的探頭尺寸≤ 0.5μm，可實(shí)現(xiàn)高分析空間分辨率。全自動(dòng)計(jì)算機(jī)控制，允許在質(zhì)譜采集期間掃描離子槍，從而可以收集到化學(xué)圖像或圖譜。另外還提供了一個(gè)二次電子探測(cè)器（SED），用 于調(diào)諧初級(jí)電子束和 SED 圖像捕獲。

帶有12.7μm重復(fù)單元的銅格柵

SurfaceSeer I 儀器特點(diǎn)：

• 配備25KV液態(tài)金屬離子槍（LMIG）作為主要離子源，檢測(cè)能力更強(qiáng)，質(zhì)量分辨率更高；
  

• 具備表面成像和深度剖析功能；

• 提供的SIMS材料譜庫包含上千種材料的質(zhì)譜數(shù)據(jù)，可識(shí)別未知的化合物和材料；

• 可同時(shí)分析所有元素及有機(jī)物，可消除有機(jī)物和元素干擾，使譜圖更清晰，檢測(cè)限更低，能更有效地分析材料樣品。

• 專用數(shù)據(jù)處理軟件允許分析數(shù)據(jù)和樣品的化學(xué)構(gòu)成信息進(jìn)行全面的交互提取，其所有儲(chǔ)存的數(shù)據(jù)都能用于溯源性分析。

• 表面分析靈敏度高達(dá) 1x10⁹ atoms/cm²

SurfaceSeer I 應(yīng)用領(lǐng)域:

• 表面涂層和處理
  

• 電子元件和半導(dǎo)體
  

• 電極與傳感器
  

• 潤滑劑
  

• 催化劑
  

• 粘合劑
  

• 薄膜等包裝材料
  

• 腐蝕研究
  

• 大學(xué)教學(xué)與科研